923690-28 (3M)

F178276
нет данных
 
Тестовый зажим микросхемы, DIP, 28 контакт(-ов), Контакты с Покрытием из Золота, 923 Series

Документация
Technical Data Sheet EN

Бренд3M Наименование923690-28 Цена заШтука Страна производстваGermany СкладFarnell

Тестовый зажим микросхемы, DIP, 28 контакт(-ов), Контакты с Покрытием из Золота, 923 Series

The 923690-28 is a through-hole Test Clip with headless head and gold alloy plated contacts.
  • Helical compression spring and insulating contact combs ensure contact integrity during testing
  • Probe access points are immediately visible for fast and safe individual lead testing
  • Staggered contact rows facilitate probe attachment & prevent accidental shorting of adjacent probes
  • With positive attachment to device, test clip will not fall off when board is vertical
  • Wiping action and high nominal force combine to provide excellent electrical contact
  • High normal force
  • Excellent electrical contact
  • Long-term performance

Области применения

Тестирование и Измерение, Промышленное

Количество Контактов:
28контакт(-ов)
Линейка Продукции:
923 Series
Покрытие Контакта:
Контакты с Покрытием из Золота
Стили Корпуса Микросхемы:
DIP
Шаг Контактов:
-
SVHC (Особо Опасные Вещества):
To Be Advised
RoHS статус:
Да
Популярные товары